膜厚儀又名膜厚測(cè)試儀，分為手持式和臺(tái)式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。

臺(tái)式的熒光X射線膜厚儀，是通過(guò)一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值·

我司經(jīng)營(yíng)的瑞典AB302便攜式顯微膜厚儀

此款膜厚儀是屬于彈坑式膜厚儀，用一個(gè)銳角角度一定的鉆頭鉆一個(gè)光滑的彈坑，并使之剛好露出底材。可以連續(xù)測(cè)量化學(xué)處理層、底漆、面漆等多層厚度。由一套鉆孔裝置和一個(gè)顯微鏡組成，體積小巧，便攜耐用，操作方便。

主要用途：測(cè)試多層涂層厚度；亦可用于校準(zhǔn)，例如校準(zhǔn)電磁式膜厚儀等。